(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211298675.X (22)申请日 2022.10.24 (71)申请人 成都嘉纳海威科技有限责任公司 地址 610200 四川省成 都市双流区西南 航 空港经济开发区物联网产业园 (72)发明人 吴晓东　卢朝保　胡柳林　王测天　 邬海峰　黎洪迪　石君　吕继平　 童伟　 (74)专利代理 机构 西安正华恒远知识产权代理 事务所(普通 合伙) 61271 专利代理师 陈选中 (51)Int.Cl. G06Q 10/06(2012.01) G06Q 50/04(2012.01) G06F 16/23(2019.01)G06F 16/25(2019.01) G06K 9/62(2022.01) (54)发明名称 一种芯片测试中标准样品件的管理系统及 方法 (57)摘要 本发明公开了一种芯片测试中标准样品件 的管理系统及方法， 系统包括数据采集模块： 用 于采集芯片 的在片测试数据； 台账管理模块： 用 于对芯片进行分类管理， 并记录标准样品件的测 试计数值； 数据库： 用于存储及分析不同类型的 标准样品件。 本发明方法不仅可以通过标准样品 件测试对测试平台的一致性进行标定， 也可以通 过对测试数据进行优化补偿达到数据库接近真 实的统计结果。 权利要求书2页 说明书5页 附图1页 CN 115358648 A 2022.11.18 CN 115358648 A 1.一种芯片测试中标准样品件的管理系统， 其特 征在于， 包括： 数据采集模块： 用于采集芯片的在片测试 数据； 台账管理模块： 用于对芯片进行分类管理， 并记录标准样品件的测试计数值； 数据库： 用于存 储及分析不同类型的标准样品件。 2.根据权利要求1所述的芯片测试中标准样品件的管理系统， 其特征在于， 所述数据库 中部署有深度补偿模型以及标准样品件更新模型； 其中， 深度补偿模型用于对待测芯片进行量产筛测； 标准样品件更新模型用于根据量 产筛测结果， 对数据库中存 储的标准样品件进行 更新。 3.根据权利要求1所述的芯片测试中标准样品件的管理系统， 其特征在于， 所述标准样 品件更新模型通过对数据库中存储的标准样品件的使用情况进行监控， 以确保标准样品件 的有效性。 4.一种基于权利要求1~3任一权利要求所述的芯片测试中标准样品件的管理系统 的管 理方法， 其特 征在于， 包括以下步骤： S1、 数据采集： 采集芯片的在片测试 数据； S2、 芯片测试： 根据在片测试 数据确定标准样品件； S3、 标准样品件管理： 构建标准样品件的数据库， 分批次对待测芯片进行量产筛测， 并 根据测试 结果更新数据库中的标准样品件。 5.根据权利要求4所述的管理方法， 其特征在于， 所述步骤S1中， 采集的在片测试数据 包括输入输出驻波、 增益、 输出功率、 电流以及噪声系数。 6.根据权利要求5所述的管理方法， 其特征在于， 所述步骤S2中， 将每项在片测试数据 均满足技 术指标要求的芯片作为标准样品件。 7.根据权利要求 4所述的管理方法， 其特 征在于， 所述 步骤S3具体为： S31、 将标准样品件 存储在数据库中； 在所述数据库中， 以标准样品件的芯片型号及晶圆分类号为标准进行批次分类的在片 测试数据及量产测试 数据存储， 且每个标准样品件均配置有对应的测试计数值； S32、 基于标准样品件的在片测试 数据， 对待测芯片进行量产筛测， 获得量产测试 数据； S33、 将满足技术指标要求的量产测试数据存储至数据库中， 并根据测试计数值对数据 库中的标准样品件进行 更新。 8.根据权利要求7 所述的管理方法， 其特 征在于， 所述 步骤S32具体为： S32‑1、 确定标准样品件技 术指标要求的门限范围； S32‑2、 基于确定的门限范围对标准样品件进行仿真优化， 确定标准样品件在片测试数 据的优化目标； S32‑3、 基于确定的优化目标， 通过深度补偿模型对需要进行优化的标准样品件的在片 测试数据进行深度补偿， 进 而获得标准样品件的量产测试 数据。 9.根据权利要求7 所述的管理方法， 其特 征在于， 所述 步骤S33具体为： S33‑1、 将满足技 术指标要求的量产测试 数据存储在数据库中， 并实时更新数据库； S33‑2、 判断数据库中存 储的标准样品件是否过期； 若是， 则进入步骤S3 3‑3； 若否， 则返回步骤S31；权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115358648 A 2S33‑3、 将过期的标准样品件从数据库中删除， 并重新确定标准样品件。 10.根据权利要求9所述的管理方法， 其特征在于， 所述步骤S33 ‑3中， 判断标准样品件 的是否过期的方法具体为： 判断标准样品件的测试计数值是否大于设定测试计数阈值； 若是， 则标准样品件过期； 若否， 则标准样品件未 过期； 其中， 测试计数值是指基于同一标准样品件进行待测芯片量产筛测的次数。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115358648 A 3