(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211243708.0 (22)申请日 2022.10.12 (71)申请人 南通市通州区精华电器有限公司 地址 226300 江苏省南 通市通州区十总镇 东源科技园东区 (72)发明人 易俊钰　 (74)专利代理 机构 南通一恒专利商标代理事务 所(普通合伙) 32553 专利代理师 梅家祺 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 7/11(2017.01) G06T 7/136(2017.01) G06V 10/26(2022.01) G06V 10/50(2022.01)G06V 10/54(2022.01) G06V 10/77(2022.01) G06V 20/70(2022.01) (54)发明名称 一种二极管引脚缺陷识别方法 (57)摘要 本发明涉及数据处理技术领域， 具体涉及一 种二极管引脚缺陷识别方法， 该方法获取包含二 极管的第一区域和只包含引脚的四个第二区域； 基于第一区域的第一主成分方向对第二区域进 行匹配得到同一根引脚上的两个第二区域； 利用 设定尺寸的窗口遍历第二区域， 分别计算每个窗 口内的灰度方差， 以获取每个第一疑似缺陷像素 点的第一缺陷概率， 获取每个第二区域的梯度 图， 根据梯度图获取每个第二疑似缺陷像素点的 第二缺陷概率， 结合第一缺陷概率和第二缺陷概 率确认每个第二区域中的缺陷像素点； 分别获取 同一根引脚上的两个第二区域的连接区域， 根据 连接区域中的缺陷像素点数量确认 缺陷区域。 通 过采用纹理和灰度计算， 提高了二极管引脚的缺 陷的检测结果。 权利要求书1页 说明书6页 附图2页 CN 115330760 A 2022.11.11 CN 115330760 A 1.一种二极管引脚缺陷识别方法， 其特 征在于， 该 方法包括以下步骤： 采集二极管图像， 对所述二极管图像进行语义分割， 分别得到只包含二极管的第一区 域和只包 含引脚的四个第二区域； 分别获取所述第一区域的第一主成分方向， 对所述第二区域进行匹配得到多个匹配 对， 获取每个匹配对对应两个所述第二区域的第二主成分方向， 根据第一主成分方向与第 二主成分方向的差值之和， 将差值之和最小 所对应的匹配对作为同一根引脚上的两个所述 第二区域； 利用设定尺寸的窗口遍历所述第二区域， 分别计算每个窗口内的灰度方差， 将灰度方 差作为对应窗口的中心 点的值， 得到灰度方差图像； 对所述灰度方差图像进行阈值分割， 确 认第一疑似缺陷像素点， 并计算每个第一疑似缺陷像素点的第一缺陷概率； 利用sobel算子 获取每个所述第二区域的梯度图， 通过窗口获取每个窗口对应的梯度方向直方图， 统计所 述梯度方向直方图的方向数量， 得到相邻方向的标准角度差值， 根据标准角度差值计算对 应窗口的方向无序性； 将每个窗口的方向无序性作为对应窗口的中心像素点的方向无序 性， 得到每个所述第二区域的方向无序性图像， 对 所述方向无序性图像进 行阈值分割， 得到 第二疑似缺陷像素点， 并计算每个第二疑似缺陷像素点的第二缺陷概率； 结合第一缺陷概 率和第二 缺陷概率确认每 个所述第二区域中的缺陷像素点； 分别获取同一根引脚 上的两个所述第 二区域的连接区域， 根据连接区域中的缺陷像素 点数量确认缺陷区域。 2.如权利要求1所述的一种二极管引脚缺陷识别方法， 其特征在于， 所述第 一缺陷概率 的获取方法， 包括： 获取所有第 一疑似缺陷像素点中的最大灰度值， 将每个第 一疑似缺陷像素点的灰度值 与最大灰度值的比值作为对应第一疑似缺陷像素点的第一 缺陷概率。 3.如权利要求1所述的一种二极管引脚缺陷识别方法， 其特征在于， 所述相邻方向的标 准角度差值的获取 方法， 包括： 将360度与方向数量之间的比值作为相邻方向的标准角度差值。 4.如权利要求1所述的一种二极管引脚缺陷识别方法， 其特征在于， 所述根据标准角度 差值计算对应窗口 的方向无序性的方法， 包括： 分别获取所述梯度方向直方图中相邻方向的角度差值， 计算每个角度差值与标准角度 差值的比值， 得到比值序列， 计算比值序列的均值； 计算所述梯度方向直方图中所有方向的矢量方向之和， 将所述比值序列的均值、 所述 矢量方向之和的模以及方向数量之间的乘积作为对应窗口 的方向无序性。 5.如权利要求1所述的一种二极管引脚缺陷识别方法， 其特征在于， 所述第 二缺陷概率 的获取方法， 包括： 获取所有第 二疑似缺陷像素点中的最大灰度值， 将每个第 二疑似缺陷像素点的灰度值 与最大灰度值的比值作为对应第二疑似缺陷像素点的第二 缺陷概率。 6.如权利要求1所述的一种二极管引脚缺陷识别方法， 其特征在于， 所述结合第 一缺陷 概率和第二 缺陷概率确认每 个所述第二区域中的缺陷像素点的方法， 包括： 当第一疑似缺陷像素点和第 二疑似缺陷像素点属于同一像素点 时， 获取对应第 一缺陷 概率与第二 缺陷概率的乘积； 当乘积大于乘积阈值时， 确认该像素点 为缺陷像素点。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 115330760 A 2一种二极管引脚缺陷识别方 法 技术领域 [0001]本发明涉及数据处 理技术领域， 具体涉及一种二极管引脚缺陷识别方法。 背景技术 [0002]发光二极管的久放不会影响发光， 唯一受到影响的是引脚生锈问题。 受成本限制， 直插式发光二极管很少用铜作引脚， 一般都用 钢质材料镀银或镀锡来制作， 钢质也即是熟 铁。 由于镀层较薄， 保管稍有不慎很容易生锈， 特别是靠近根部和横杠切口部位， 严重时会 变脆断掉。 [0003]现有方法对二极管上引脚上的锈斑进行检测识别是通过色调对比， 如果发现引脚 上有接近锈 斑的色调就认为是锈 斑区域， 该方法对于无色透明的二极管的检测识别效果较 好， 但对于有色二极管， 由于有色玻壳的存在， 通过 该方法检测识别存在较大误差 。 发明内容 [0004]为了解决上述技术问题， 本发明的目的在于提供一种二极管引脚缺陷识别方法， 所采用的技 术方案具体如下： 采集二极管 图像， 对所述二极管 图像进行语义分割， 分别得到只包含二极管的第 一区域和只包 含引脚的四个第二区域； 分别获取所述第一区域的第一主成分方向， 对所述第二区域进行匹配得到多个匹 配对， 获取每个匹配对对应两个所述第二区域的第二主成分方向， 根据第一主成分方向与 第二主成分方向的差值之和， 将差值之和最小所对应的匹配对作为同一根引脚上的两个所 述第二区域； 利用设定尺寸的窗口遍历所述第二区域， 分别计算每个窗口内的灰度方差， 将灰 度方差作为对应窗口的中心点的值， 得到灰度方差图像； 对所述灰度方差图像进行阈值分 割， 确认第一疑似缺陷像素点， 并计算每个第一疑似缺陷像素点的第一缺陷概率； 利用 sobel算子获取每个所述第二区域的梯度图， 通过窗口获取每个窗口对应的梯度方向直方 图， 统计所述梯度方向直方图的方向数量， 得到相 邻方向的标准角度差值， 根据标准角度差 值计算对应窗口的方向无序性； 将每个窗口的方向无序性作为对应窗口的中心像素点的方 向无序性， 得到每个所述第二区域的方向无序性图像， 对所述方向无序性图像进行阈值分 割， 得到第二疑似缺陷像素点， 并计算每个第二疑似缺陷像素点的第二缺陷概率； 结合第一 缺陷概率和第二 缺陷概率确认每 个所述第二区域中的缺陷像素点； 分别获取同一根引脚上的两个所述第二区域的连接区域， 根据连接区域中的缺陷 像素点数量确认缺陷区域。 [0005]进一步的， 所述第一 缺陷概率的获取 方法， 包括： 获取所有第一疑似缺陷像素点中的最大灰度值， 将每个第一疑似缺陷像素点的灰 度值与最大 灰度值的比值作为对应第一疑似缺陷像素点的第一 缺陷概率。 [0006]进一步的， 所述相邻方向的标准角度差值的获取 方法， 包括：说　明　书 1/6 页 3 CN 115330760 A 3