(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211249877.5 (22)申请日 2022.10.12 (71)申请人 南通红运金属科技有限公司 地址 226000 江苏省南 通市通州区平潮镇 平东工业 集中区 (72)发明人 郑光晖　 (74)专利代理 机构 南通一恒专利商标代理事务 所(普通合伙) 32553 专利代理师 梅家祺 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 7/13(2017.01) G06T 7/62(2017.01) G06T 7/64(2017.01) G06T 7/73(2017.01) (54)发明名称 一种金属研磨麻点 缺陷检测方法 (57)摘要 本发明涉及一种金属研磨麻点缺陷检测方 法， 属于数据识别技术领域， 该方法步骤包括： 当 待检测金属工件表面灰度图像中不存在边缘轮 廓时判定待检测金属工件为无缺陷工件， 当表面 灰度图像中存在边缘轮廓时， 并获取由全部疑似 缺陷区域构成的待区分图像； 当待区分图像的短 游程优势小于第一阈值时判定待检测金属工件 为非单一类型的缺陷工件， 否则计算出待区分图 像在灰度加权更新后的短游程优势； 当待区分图 像在灰度加权更新后的短游程优势小于预设第 二阈值时， 判定待检测金属工件为单一类型的麻 点缺陷工件； 本发明根据金属工件表 面麻点与表 面附着颗粒粉尘的不同特性， 准确的识别出金属 工件表面是否为麻点 缺陷。 权利要求书2页 说明书9页 附图2页 CN 115330773 A 2022.11.11 CN 115330773 A 1.一种金属研磨麻点 缺陷检测方法， 其特 征在于， 该 方法包括： 在设定角度光照下采集待检测金属工件表面灰度图像， 当表面灰度图像中不存在边缘 轮廓时判定待检测金属工件为无缺陷工件； 其中， 待检测金属工件为初次研磨抛光后金属 工件； 当表面灰度图像中存在边缘轮廓时， 将每个边缘轮廓围成的区域作为一个疑似缺陷区 域， 并获取由全部疑似缺陷区域构成的待区分图像； 将待区分图像 中的灰度值分为多个等级得到分级后图像， 构建分级后图像沿光照水平 方向上的灰度 游程矩阵， 利用灰度游程矩阵中全部元素值计算出在光照水平 方向下待区分 图像的短游程优势； 计算出待区分图像中全部疑似缺陷区域的平均面积， 根据得到的平均面积计算出全部 疑似缺陷区域的平均长度， 利用得到的平均长度和灰度游程矩阵中全部元素值计算出第一 阈值； 当待区分图像的短游程优势小于第 一阈值时， 判定待检测金属工件为非单一类型的缺 陷工件， 对待检测金属工件进行二次研磨； 当待区分图像的短游程优势大于等于第 一阈值时， 获取待区分图像中任一疑似缺陷区 域的中心点， 按照光照垂直方向并过将该疑似缺陷区域的中心点将其分割成左右两部分， 利用该左右两部分的平均灰度值， 对在光照水平方向下待区分图像的短游程优势进行灰度 加权更新， 得到待区分图像在灰度加权更新后的短游程优势； 当待区分图像在灰度加权更新后的短游程优势小于预设第 二阈值时， 判定待检测金属 工件为单一类型 的麻点缺陷， 对待检测金属工件进行二次研磨； 当待区分图像在灰度加权 更新后的短游程优势大于等于预设第二阈值时， 判定待检测金属工件为附着颗粒或粉 尘的 伪缺陷， 对待检测金属工件进行清洗 。 2.根据权利要求1所述的一种金属研磨麻点缺陷检测方法， 其特征在于， 所述并获取由 全部疑似缺陷区域构成的待区分图像的步骤 包括： 将表面图像中每 个疑似缺陷区域进行填充， 获取全部疑似缺陷区域的二 值图像； 将二值图像与表面灰度图像相乘， 得到由全部疑似缺陷区域构成的待区分图像。 3.根据权利要求1所述的一种金属研磨麻点缺陷检测方法， 其特征在于， 所述将待区分 图像中的灰度值分为多个等级得到分级后图像的步骤 包括： 获取待区分图像中的最大 灰度值和最小灰度值； 计算最大灰度值和最小灰度值的第 一差值， 计算该第 一差值与 预设划分等级数的第 一 比值， 并将该第一比值作为每 个划分等级内包 含的灰度值数量； 利用每个划分等级内包含的灰度值数量、 待区分图像中的最大灰度值以及待区分图像 中的最小灰度值， 计算出每 个划分等级包 含的灰度值范围； 将待区分图像中的灰度值按照所属 划分等级 进行标注得到分级后图像。 4.根据权利要求1所述的一种金属研磨麻点缺陷检测方法， 其特征在于， 所述利用灰度 游程矩阵中全部元 素值计算出在光照水平方向下待区分图像的短游程优势的步骤 包括： 计算出灰度游程矩阵中每个元素值占灰度游程矩阵中全部元素值总和的第 二比值， 并 计算出得到的全部第二比值的第二和值； 计算出第二比值与对应元素值在灰度游程矩阵中纵坐标平方的第 三比值， 并计算出得权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115330773 A 2到的全部第三比值的第三和值； 将第三和值与第二和值的第四比值作为在光照水平方向下待区分图像的短游程优势。 5.根据权利要求4所述的一种金属研磨麻点缺陷检测方法， 其特征在于， 所述利用得到 的平均长度和灰度游程矩阵中全部元 素值计算出第一阈值的步骤 包括： 获取灰度游程矩阵中每个元素值占灰度游程矩阵中全部元素值总和的第 二比值， 并得 到全部第二比值的第二和值； 获取灰度游程矩阵中全部疑似缺陷区域 四倍平均长度的倒数， 计算出第 二比值与 该倒 数平方的第五比值， 并获取 得到的全部第五比值的第四和值； 将第四和值与第二和值的比值作为第一阈值。 6.根据权利要求1所述的一种金属研磨麻点缺陷检测方法， 其特征在于， 所述计算出待 区分图像中全部疑似缺陷区域的平均面积的步骤 包括： 获取待区分图像中每 个疑似缺陷区域内包 含的像素点总数量； 计算出全部疑似缺陷区域内包含的像素点总数量的总数量， 将该总数量与待区分图像 中疑似缺陷区域个数的比值作为待区分图像中全部疑似缺陷区域的平均面积。 7.根据权利要求6所述的一种金属研磨麻点缺陷检测方法， 其特征在于， 所述根据 得到 的平均面积计算出全部疑似缺陷区域的平均长度的步骤 包括： 在已知疑似缺陷区域近似圆形的条件下， 利用得到的平均面积计算出全部疑似缺陷区 域的平均半径； 将全部疑似缺陷区域的平均半径的二 倍作为全部疑似缺陷区域的平均长度。 8.根据权利要求1所述的一种金属研磨麻点缺陷检测方法， 其特征在于， 所述获取待区 分图像中任一疑似缺陷区域的中心点的步骤 包括： 获取待区分图像中任一疑似缺陷区域沿光照水平方向的最长宽度 所在的直线， 获取待 区分图像中任一疑似缺陷区域沿光照垂直方向的最长 长度所在的直线； 将最长宽度所在的直线和最长长度所在的直线的交点， 作为该疑似缺陷区域的中心 点。 9.根据权利要求1所述的一种金属研磨麻点缺陷检测方法， 其特征在于， 所述利用该左 右两部分的平均灰度值， 计算出待区分图像在灰度加权更新后的短游程优势的步骤 包括： 选取待区分图像中任一疑似缺陷区域作为目标疑似缺陷区域； 过目标疑似缺陷区域的中心点将其分割成左侧缺陷区域和右侧缺陷区域； 利用左侧缺陷区域内全部像素点的灰度值计算出左侧缺陷区域的平均灰度值； 利用右侧缺陷区域内全部像素点的灰度值计算出右侧缺陷区域的平均灰度值； 计算左侧缺陷区域的平均 灰度值与右侧缺陷区域的平均 灰度值的第 二差值， 将该第 二 差值与在光照水平方向下待区分图像的短游程优势相乘， 得到待区分图像在灰度加权更新 后的短游程优势。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115330773 A 3