(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211248163.2 (22)申请日 2022.10.12 (71)申请人 南通新诚电子有限公司 地址 226000 江苏省南 通市经济技 术开发 区广州路3 6号 (72)发明人 戴皓月　 (74)专利代理 机构 武汉世跃专利代理事务所 (普通合伙) 42273 专利代理师 万仲达 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 5/00(2006.01) (54)发明名称 一种电容阳极铝箔化成质量 缺陷识别方法 (57)摘要 本发明涉及数据处理技术领域， 具体涉及一 种电容阳极铝箔化成质量缺陷识别方法。 该方法 包括： 获取阳极铝箔化成处理后表面的灰度图， 获得灰度图的判断值； 所述判断值大于判断阈值 的灰度图为缺陷灰度图； 得到一个灰阶对应的多 个分布中心； 基于每个第一连线上每个灰阶的像 素点出现的概率得到每个第一连线的灰阶熵； 获 得每个灰阶的中心连线灰阶熵； 根据每个灰阶的 中心连线灰阶熵和每个灰阶的像素点出现的概 率计算缺陷灰度图的缺陷类别表征值； 根据缺陷 灰度图的缺陷类别表征值判断电容阳极铝箔化 成的缺陷类别。 本发明可以对化成膜结晶粗大疏 松缺陷以及化成膜干燥挂灰缺陷进行区分识别， 可以提高铝箔化成工艺过程质量缺陷的排除效 率。 权利要求书2页 说明书5页 附图1页 CN 115330766 A 2022.11.11 CN 115330766 A 1.一种电容阳极铝箔化成质量 缺陷识别方法， 其特 征在于， 该 方法包括： 获取阳极铝箔化成处理后表面的灰度图， 对灰度图的进行灰阶的划分； 基于每个灰阶 的灰阶数， 以及属于每个灰阶的像素点的数量与像素点总数量的比值获得灰度图的判断 值； 设定判断阈值， 所述判断值大于判断阈值的灰度图为 缺陷灰度图； 将缺陷灰度图中属于一个灰阶的相邻的像素点进行合并获得多个像素区域， 将每个像 素区域的中心点作为一个分布中心， 得到一个灰阶对应的多个分布中心； 将一个灰阶对应 的多个分布中心中任意两个分布中心进行连线， 得到第一连线； 基于每个第一连线上每个 灰阶的像素点出现的概率得到每个第一连线的灰阶熵； 一个灰阶对应的所有第一连线的灰 阶熵的均值 为该灰阶的中心连线灰阶熵； 根据每个灰阶的中心连线灰阶熵和每个灰阶的像素点出现的概率计算缺陷灰度图的 缺陷类别表征值； 根据缺陷灰度图的缺陷类别表征值判断电容阳极铝箔化成的缺陷类别； 所述缺陷类别表征值 为： 其中， 表示缺陷灰度图的缺陷类别表征值； 表示第 灰阶； 属于第k个灰阶的像素 点出现的概 率； 表示第k个灰阶的中心连线灰阶熵。 2.根据权利要求1所述的一种电容阳极铝箔化成质量缺陷识别方法， 其特征在于， 所述 对灰度图的进行灰阶的划分包括： 对灰度图上像素点的灰度值进行归一化， 根据归一化后 的灰度值进行灰阶的划 分， 其中， 为第1灰阶， 为第2灰阶， 以此类推， 为第10灰阶。 3.根据权利要求1所述的一种电容阳极铝箔化成质量缺陷识别方法， 其特征在于， 所述 判断值为： 其中， Q为灰度图的判断值； 表示第k灰阶； 表示属于第k灰阶的像素点出现的概 率。 4.根据权利要求1所述的一种电容阳极铝箔化成质量缺陷识别方法， 其特征在于， 所述 每个第一连线的灰阶熵为： 其中， 表示第k灰阶对应的分布中心a和分布中心b组成的第一连线的灰阶熵； 表示第k灰 阶对应的分布中心a和分布中心b组成的第一连线上灰阶为s的像素点出 现的概率； 表示自然对数函数。权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115330766 A 25.根据权利要求1所述的一种电容阳极铝箔化成质量缺陷识别方法， 其特征在于， 所述 根据缺陷灰度图的缺陷类别表征值判断电容阳极铝箔化成的缺陷类别包括： 设定缺陷类别判断阈值， 若缺陷类别表征值小于缺陷类别判断阈值， 则判定电容阳极 铝箔化成的缺陷类型为化成膜结晶粗大疏松， 若缺陷类别表征值大于等于缺陷类别判断阈 值， 则判定电容阳极铝箔化成的缺陷类型为 化成膜干燥 挂灰缺陷。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115330766 A 3