(19)国家知识产权局 (12)发明 专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202211182669.8 (22)申请日 2022.09.27 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 115272320 A (43)申请公布日 2022.11.01 (73)专利权人 江苏昱恒电气有限公司 地址 226000 江苏省南 通市海安市城东 镇 龙游路18号 (72)发明人 储春琴　 (74)专利代理 机构 武汉华强专利代理事务所 (普通合伙) 42237 专利代理师 康晨 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 7/11(2017.01)G06T 7/187(2017.01) G06V 10/74(2022.01) G06V 10/77(2022.01) G06V 10/774(2022.01) G06V 10/82(2022.01) G06N 3/04(2006.01) G06N 3/08(2006.01) (56)对比文件 CN 103500459 A,2014.01.08 CN 103049753 A,2013.04.17 CN 114842033 A,2022.08.02 CN 115049638 A,202 2.09.13 审查员 顾明海 (54)发明名称 一种电子产品表面印刷质量检测方法 (57)摘要 本发明公开了一种电子产品表面印刷质量 检测方法， 属于图像识别技术领域； 包括以下步 骤： 获取待检测电子产品上的印刷区域图像； 获 取每个连通域的方向向量； 构建树形第一拓扑结 构； 获取标准电子产品上的印刷区域图像对应的 树形第二拓扑结构； 获取修正后的第一拓扑结构 与第二拓 扑结构的相似度； 根据修正后的第一拓 扑结构与第二拓扑结构的相似度判断待检测电 子产品是否为合格产品。 本发明通过比较待检测 的实际图像和标准图像拓扑结构的相似度， 来评 价电子产品的表面印刷质量， 避免了传统检测方 法中电子产品的姿态参数的干扰， 同时不需要计 算图像匹配就可以得到电子产品表面的印刷质 量。 权利要求书2页 说明书10页 附图2页 CN 115272320 B 2022.12.13 CN 115272320 B 1.一种电子产品表面印刷质量检测方法， 其特 征在于， 包括以下步骤： 获取待检测电子产品上的印刷区域图像； 并获取待检测印刷区域图像中的多个连通域 以及多个连通 域形成的整体连通区域； 根据每个连通域内像素点的坐标通过PCA算法获取每个连通域的主方向和次方向； 依 次类比获取整体连通区域的主方向和次方向； 根据每个连通域的主方向和次方向， 及整体 连通区域的主方向和次方向获取每 个连通域的方向 向量； 在印刷区域图像上设置整体连通区域的拓扑中心点； 将距所述拓扑中心点最近的连通 域中心点对应的连通域作为拓扑中心连通域； 将每个连通域作为节点， 并以拓扑中心连通 域为初始层节点构建树形第一拓扑结构； 所述第一拓扑结构 中， 相邻下一层节点是与其相 邻上一层节点对应连通 域距离最近的连通 域； 将每个连通域的方向 向量作为第一拓扑 结构中对应节点的第一节点向量； 将任意两个相连节点对应的两个连通域间的距离作为该两个相连节点之间连接边的 第一元素值； 根据任意两个相连节点对应的两个连通域的中心 点连线方向， 和/或整体连通 区域的主方向获取该两个相连节点之 间连接边的第二元素值； 依次将每个连接边的第一元 素值和第二元 素值作为第一拓扑 结构中每 个连接边的第一 边向量； 依次类比获取标准电子产品上的印刷区域图像对应的树形第 二拓扑结构， 并获取第 二 拓扑结构中每 个节点的第二节点向量和每 个连接边的第二 边向量； 根据第二拓扑结构中任一连接边的第 二边向量中的第 二元素值， 对第 一拓扑结构中对 应的连接边的第一 边向量中的第二元 素值进行修 正， 获取修 正后的第一拓扑 结构； 根据修正后的第一拓扑结构中每个节点的第 一节点向量和每个连接边的第 一边向量， 以及第二拓扑结构中对应节点的第二节点向量和对应连接边的第二边向量， 获取修正后的 第一拓扑 结构与第二拓扑 结构的相似度； 根据修正后的第一拓扑结构与第二拓扑结构的相似度判断待检测电子产品是否为合 格产品； 所述修正后的第一拓扑 结构与第二拓扑 结构的相似度是按照以下步骤获取： 根据修正后的第一拓扑结构中每个节点的第一节点向量和第二拓扑结构中对应节点 的第二节点向量的获取第一拓扑 结构中每 个节点的余弦相似度； 根据修正后的第一拓扑结构中每个连接边的第一边向量和第二拓扑结构中对应连接 边的第二 边向量获取第一拓扑 结构中每 个连接边的余弦相似度； 根据第一拓扑结构中每个节点的余弦相似度和第一拓扑结构中每个连接边的余弦相 似度获取修 正后的第一拓扑 结构与第二拓扑 结构的相似度； 所述修正后的第一拓扑结构与第二拓扑结构的相似度是通过计算所有节点的余弦相 似度及所有连接边的余弦相似度的均值而获取的。 2.根据权利要求1所述的一种电子产品表面 印刷质量检测方法， 其特征在于， 所述第 一 拓扑结构是按照以下步骤构建： 以拓扑中心连通域为初始层节点， 并对每个连通域进行遍历， 将与拓扑中心连通域距 离最近的至少两个第一连通域作为第一拓扑结构中的第二层节点； 将与每个第一连通域距 离最近的至少两个第二连通 域作为第一拓扑 结构中的第三层节点； 依此类推将与相邻上一层每个连通域距离最近的至少两个连通域作为第一拓扑结构权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115272320 B 2中的相邻下一层节点， 直至所有的连通 域遍历完成获取树形第一拓扑 结构。 3.根据权利要求1所述的一种电子产品表面 印刷质量检测方法， 其特征在于， 所述两个 相连节点之 间连接边为第一拓扑结构中第二层节 点和初始层节点之 间的连接边时， 其第二 层节点和初始层节点之间的连接边的第二元 素值是按照以下步骤获取： 根据第二层节点与初始层节点对应的两个连通域的中心点连线方向， 和整体连通区域 的主方向的方向角差值获取第二层节点与初始层节点之间连接边的第二元 素值。 4.根据权利要求1所述的一种电子产品表面 印刷质量检测方法， 其特征在于， 所述两个 相连节点之 间连接边为第一拓扑结构中第二层节 点及以下层级节点的连接边时， 其两个相 连节点之间连接边的第二元 素值是按照以下步骤获取： 根据两个相连节点对应的两个连通域的中心点连线方向， 和该两个相连节点中的上一 层节点与其父节点对应的两个连通域的中心 点连线方向的方向角差值， 获取两个相连节点 之间连接边的第二元 素值。 5.根据权利要求1所述的一种电子产品表面 印刷质量检测方法， 其特征在于， 每个连通 域的方向 向量是按照以下步骤获取： 根据每个连通域的主方向和整体连通区域的主方向获取每 个连通域的主方向元 素值； 根据每个连通域的次方向和整体连通区域的次方向获取每 个连通域的次方向元 素值； 根据每个连通域的主方向元 素值和次方向元 素值获取每 个连通域的方向 向量。 6.根据权利要求5所述的一种电子产品表面 印刷质量检测方法， 其特征在于， 每个连通 域的主方向和次方向是按照以下步骤获取： 根据每个连通域内所有像素点的坐标利用PCA算法获取每个连通域内所有像素点坐标 的多个主成分方向； 根据每个主成分方向获取每个主成分方向的特征值， 将特征值最大 的 主成分方向作为对应连通域的主方向； 将特征值最小的主成分方向作为对应连通域的次方 向。 7.根据权利要求1所述的一种电子产品表面 印刷质量检测方法， 其特征在于， 所述第 一 拓扑结构对应在印刷区域图像的拓扑中心点与第二拓扑结构中的对应在印刷区域图像的 拓扑中心点 为同一位置点。 8.根据权利要求1所述的一种电子产品表面 印刷质量检测方法， 其特征在于， 所述连通 域距离是指沿着两个连通 域的中心点连线方向的两个连通 域上点的最小欧式距离 。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115272320 B 3