(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210429575.X (22)申请日 2022.04.22 (71)申请人 北京地平线机 器人技术研发有限公 司 地址 100094 北京市海淀区丰豪东路9号院 2号楼3层1单 元302 (72)发明人 张祎男　李德林　李建军　 (74)专利代理 机构 北京思源智汇知识产权代理 有限公司 1 1657 专利代理师 王晓多 (51)Int.Cl. G06V 10/44(2022.01) G06V 10/80(2022.01) G06V 10/82(2022.01) G06V 20/64(2022.01)G06N 3/04(2006.01) G06K 9/62(2022.01) (54)发明名称 三维特征图的特征提取方法和装置、 存储介 质、 电子设备 (57)摘要 公开了一种三维特征图的特征提取方法和 装置、 可读 存储介质、 电子设备,其中， 方法包括： 基于待处理的三维特征图的深度信息， 确定叠加 参数； 基于所述深度信息和所述叠加参数， 将所 述三维特征图分解为多个目标二维特征图； 分别 对所述多个目标二维特征图中的每个目标二维 特征图执行二维卷积处理， 得到多个初始特征 图； 基于所述多个初始特征图， 确定所述三维特 征图对应的目标特 征图。 权利要求书2页 说明书10页 附图5页 CN 114708444 A 2022.07.05 CN 114708444 A 1.一种三维特 征图的特 征提取方法， 包括： 基于待处 理的三维特 征图的深度信息， 确定 叠加参数； 基于所述深度信息和所述叠加参数， 将所述 三维特征图分解 为多个目标二维特 征图； 分别对所述多个目标二维特征图中的每个目标二维特征图执行二维卷积处理， 得到多 个初始特 征图； 基于所述多个初始特 征图， 确定所述 三维特征图对应的目标 特征图。 2.根据权利要求1所述的方法， 其中， 所述基于待处理的三维特征图的深度信息， 确定 叠加参数， 包括： 确定对所述 三维特征图进行三维卷积处 理时对应的三维卷积核中的权 重值； 基于所述 三维卷积核中对应深度维度的第一权 重值， 确定所述叠加参数。 3.根据权利要求1或2所述的方法， 其中， 所述基于所述深度信 息和所述叠加参数， 将所 述三维特征图分解 为多个目标二维特 征图， 包括： 对所述三维特征图在深度方向上进行分解， 将所述三维特征图分解为第 一数量的二维 特征图； 其中， 所述第一数量 n为大于2的整数； 分别基于所述叠加参数对所述第一数量的二维特征图中每个二维特征图中的通道维 度进行扩展， 得到第一数量的所述目标二维特 征图。 4.根据权利要求3所述的方法， 其中， 所述分别基于所述叠加参数对所述第 一数量的二 维特征图中每个二维特征图中的通道维度进行扩展， 得到第一数量的所述目标二维特征 图， 包括： 基于所述叠加参数在所述 三维特征图的深度信息方向进行设定步长的移动； 基于第一数量次移动得到的第 一数量组二维图像组， 确定第 一数量的所述目标二维特 征图。 5.根据权利要求4所述的方法， 其中， 所述基于第 一数量次移动得到的第 一数量组二维 图像组， 确定第一数量的所述目标二维特 征图， 包括： 基于所述第 一数量次移动中每次移动， 获得一组包括所述叠加参数数量的二维特征图 的所述二维特征图组； 以所述二维特征图组中的每个所述二维特征图作为目标二维特征图中的一个通道的 特征图， 得到第一数量的通道数量 为叠加参数 数量的所述目标二维特 征图。 6.根据权利要求1 ‑5任一所述的方法， 其中， 所述分别对所述多个目标二维特征图中的 每个目标二维特 征图执行二维卷积处 理， 得到多个初始特 征图， 包括： 基于对所述三维特征图进行三维卷积处理时对应的三维卷积核， 确定二维卷积处理中 对应的二维卷积核； 基于所述二维卷积核分别对所述多个目标二维特征图中的每个目标二维特征图执行 二维卷积处 理， 得到多个初始特 征图。 7.根据权利要求6所述的方法， 其中， 所述基于对所述三维特征图进行三维卷积处理时 对应的三维卷积核， 确定二维卷积处 理中对应的二维卷积核， 包括： 将所述三维卷积核中对应深度维度的第一取值与所述三维卷积核中对应通道维度的 第二取值进行合并， 得到第三取值； 基于所述第 三取值作为所述二维卷积核中对应的通道维度值， 得到维度 数量压缩的所权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114708444 A 2述二维卷积核。 8.根据权利要求1 ‑7任一所述的方法， 其中， 所述基于所述多个初始特征， 确定所述三 维特征图对应的目标 特征图， 包括： 将所述多个初始特 征在深度方向上进行叠加； 得到深度信息对应所述初始特 征的数量 值的所述目标 特征图。 9.一种三维特 征图的特 征提取装置， 包括： 参数确定模块， 用于基于待处 理的三维特 征图的深度信息， 确定 叠加参数； 特征图分解模块， 用于基于所述深度信息和所述参数确定模块确定的叠加参数， 将所 述三维特征图分解 为多个目标二维特 征图； 卷积处理模块， 用于分别对所述特征图分解模块得到的多个目标二维特征图中的每个 目标二维特 征图执行二维卷积处 理， 得到多个初始特 征图； 特征确定模块， 用于基于所述卷积处理模块得到的多个初始特征图， 确定所述三维特 征图对应的目标 特征图。 10.一种计算机可读存储介质， 所述存储介质存储有计算机程序， 所述计算机程序用于 执行上述权利要求1 ‑8任一所述的三维特 征图的特 征提取方法。 11.一种电子设备， 所述电子设备包括： 处理器； 用于存储所述处 理器可执行指令的存 储器； 所述处理器， 用于从所述存储器中读取所述可执行指令， 并执行所述指令以实现上述 权利要求1 ‑8任一所述的三维特 征图的特 征提取方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114708444 A 3