SN 中华人民共和国出入境检验检疫行业标准 SN/T3999--2014 REACH法规高关注物质中钴、砷、铬、钠、 锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、 锆和钙的快速筛选检测方法 波长色散X射线荧光光谱法 Rapid Screening of cobalt,arsenic,chromium,sodium,tin,lead,zinc, silicon,aluminum,molybdenum,potassium,strontium,zirconium,calcium of substance very high concern of REACH-Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry 2014-11-19发布 2015-05-01实施 中华人民共和国 发布 国家质量监督检验检疫总局 SN/T39992014 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准由国家认证认可监督管理委员会提出并归口。 本标准主要起草单位：中华人民共和国宁波出人境检验检疫局。 本标准主要起草人：王豪、邬蓓蕾、王晓娟、张建波、王谦。 SN/T 3999—2014 REACH法规高关注物质中钻、砷、铬、钠、 锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶 锆和钙的快速筛选检测方法 波长色散X射线荧光光谱法 范围 本标准规定了用波长色散X射线荧光光谱法筛选REACH法规高关注物质中钻、砷、铬、钠、锡、 铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙的方法。 本标准适用于REACH法规高关注物质中钻、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙的筛 选测定。 本标准适用于筛选元素的浓度限值如表1所示。 表 1 不同基体材料筛选限值 单位为毫克每千克 元 素 聚合物材料 金属制品 其他材料 Co P≤(220-3a)<V P≤(2203)<V P≤(160-30)<V As P≤(110-3)<V P≤(110-3g)<V P≤(80-3)<V Cr P≤(60-3a)<V P≤(60-3)<V P≤(40-3a)<V Na P≤(80-3g)<V P≤(80-3a)<V P≤(60-3a)<V Sn P≤(270-3a)<V P≤(270-30)<V P≤(190-3a)<V Pb P≤(210--3a)<V P≤(21030)<V P≤(150-3a)<V Zn P(120-3a)<V P≤(120-3g)<V P≤(80-3a)<V IS P≤(60-3)<V >(09) P≤(50-3)<V Al P≤(130-3a)<V P≤(1303s)<V P≤(903a)<V Mo P≤(30-3)<V P≤(303)<V P≤(20-3)<V K >() P≤(1403o)<V P≤(1003g)<V IS P≤(300-3a)<V P≤(300-3a)<V P≤(210-3α)<V Zr P≤(70-30)<V P≤(70-3a)<V P≤(50-30)<V Ca P≤(2103a)<V P≤(210-3)<V P≤(1503o)<V 注1：P表示合格，V表示需进一步采用其他方法确证。 注2：3c表示分析仪器在“限值”处的重复性，是指其限用物质含量接近关注限值的典型样品的标准偏差，通常 用很少数量（不少于7次)的测定进行估算。 1 SN/T3999—2014 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T8170数值修约规则与极限数字的表示和判断 GB/T15000.5标准样品工作导则（5）化学成分标准样品技术通则 GB/T16597冶金产品分析方法X射线荧光光谱法通则 3方法提要 样品经制备后，在各元素筛选条件下用波长色散X荧光光谱仪进行测定.根据元素特征谱峰确定 待测元素的含量。 4 试剂和材料 4.1P-10混合气：含90%（体积分数）的氩气和10%（体积分数）的甲烷。 4.2 氨气：纯度大于99.9%。 4.3 钻、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙的有证标准物质。 5 仪器和设备 5.1 波长色散型X射线荧光光谱仪：符合GB/T16597规定。 5.2切割机。 5.4夜 研磨机。 5.5 压片机：压力不小于20t。 6 试样的制备 6.1 均质样品的制备 聚合物类材料和金属制品类材料具有同一均匀物性，可以用于X射线荧光光谱仪直接测定，样品 经过切割机（5.2)或人工剪切等方式切割成20mmΦ40mm大小，适合放入仪器的样品杯中，表面要 求平整光滑，并做好标记。 液体试样应加在一特定的塑料薄膜为底的塑料杯里，高度大于5mm，塑料杯上应有塑料盖盖住， 检测时需要用氮气保护。 6.2非均质及小尺寸样品 经机械破碎和研磨机研磨，制成1.0mm的颗粒，混匀，再取一定代表性样品经过压片机在一定压 力下制成压片试样，并做好标记；对于无法压片的样品，可直接置于塑料杯中进行测定，高度要大于 5mm，塑料杯上要有塑料盖盖住。 2 SN/T 39992014 7测量 7.1测量次数 选择均匀同一物性的样品至少做两份试样的平行测定，测定结果的数据处理参照GB/T16597对 结果的处理方法。 7.2测量条件 推荐REACH法规高关注物质中钴、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙的波长色散X 射线荧光光谱仪测量条件参见附录A。 7.3工作曲线的制作和校正 按照GB/T15000.5的规定和表1中的筛选限值选择有证标准物质或参考物质用制作工作曲线， 这些标准应含有钴、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙元素。 工作曲线的校正可采用背景校正、基本参数法和经验系数法校正，参见附录B。 7.4测量 仪器稳定后，选用标准物质对仪器作漂移校正和工作曲线，标准物质的基体应尽可能与样品类似， 根据制作的校准曲线计算实际样品中钻、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙的含量。 8 结果处理 样品中钻、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙的测定结果以mg/kg表示，按照GB/T8170 数值修约规则保留2位有效数字。 如果所有元素的测试结果都低于表1中列出的限值，该测试样品报告合格通过（P），无需进一步用 其他方法验证确认 如果任一元素的测试结果高于表1中列出的限值，则需要进一步采取其他方法验证确认（V）.根据 确认的测试结果再给出符合性评价。 3 SN/T3999—2014 附录A （资料性附录） 波长色散X射线荧光光谱仪测量参考条件 REACH法规高关注物质中钻、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙的波长色散X射线 荧光光谱仪测量条件如表A.1所示。 表A.1 波长色散X射线荧光光谱仪测量参考条件1） 电压/电流 元素 分析线 晶体 准直器 检测器 滤光片 26 kV/mA Co Kα LiF200 60/50 0.46 SC 200 μmAl 52.760° As Kβ LiF200 60/50 0.23 SC 30.445° 一 Cr Ka LiF200 60/50 0.46 FC 69.354° Na Ka SS-SX 30/100 0.46 FCb 24.773° 一 Sn Lα LiF200 60/50 0.46 FC 一 126.765° Pb Lp LiF200 60/50 0.46 SC 28.265° Zn Ka LiF200 0.46 SC 60/50 500 μmAl 41.767° IS Ka PET 30/100 0.46 FC 108.991° Al Ka PET 30/100 0.46 FC 144.602° Mo Ka LiF200 60/50 0.23 SC Ivuri 00s 20.302° K Kα LiF200 50/60 0.46 FC 一 136.519c IS Kα LiF200 60/50 0.23 SC 35.844° Zr Kα LiF200 60/50 0.23 SC 500 μmAl 22.521° Ca Ka LiF200 50/60 0.46 FC 113.003° - 闪烁计数检测器。 流气正比计数检测器。 1) 非商业性申明：附录A中所列测量条件是在Bruker型号S8Tiger波长色散X射线荧光光谱仪上完成的，此处 所列试验用仪器型号仅是为了提供参考型号，并不涉及商业目的，鼓励标准使用者尝试不同厂家和型号仪器。 4 SN/T3999—2014 附录B （资料性附录） 工作曲线的校正 B.1概述 REACH法规高关注物质涉及的材料品种非常多，分析元素的特征谱线可能会受到来自测试样品 中的基体影响，元素间谱线重叠干扰等因素影响这些影响因素可以通过背景扣除法、基本参数法、经验 系数法等校正方法进行干扰校正。 B.2 背景校正法 采用2点法扣除背景，按照式(B.1)计算峰的净强度： I n,B,-I B.B, I,=I, ..( B.1 ) B. - B, 式中： I. 扣除背景后的净强度； Ip 一峰位下的总强度； IB,、IB2— 分别为背景1和2的X射线荧光强度： B1、B2 分别为背景1和2的20角与峰位20角之差。 B.3 基本参数法 基本参数法是通过纯元素或者标准样品数量比较少的情况下常选用的一种校正方法，该方法在光 谱仪的软件中都具有该方法的校正功能。 B.4 经验参数法 采用经验参数法，按照式（B.2)计算峰的净强度： W; =X,(1+K, +A,F;)+B