K 48 JB 中华人民共和国机械行业标准 JB/T 9674-1999 超声波探测瓷件内部缺陷 1999-08-06发布 2000-01-01 实施 国家机械工业局 发布 JB/T 9674—1999 前言 本标准是对JB/Z262一86《超声波探测瓷件内部缺陷》进行的修订。 本标准的编写格式和方法符合GB/T1.1-1993。 本标准保留JB/Z262—86的技术内容。 本标准根据GB/T5616一1985《常规无损探伤应用导则》规定，增加了“无损探伤人员，必须具备国家 有关主管部门颁布的无损检测人员技术资格证书的要求。 本标准自实施之日起，同时代替JB/Z262一86。 本标准由全国绝缘子标准化技术委员会提出并归口。 本标准起草单位：西安电瓷研究所。 本标准主要起草人：胡声波、何正林。 I 中华人民共和国机械行业标准 JB/T 9674-1999 代替JB/Z26286 超声波探测瓷件内部缺陷 1范围 本标准规定了直径大于50mm的实心条瓷，壁厚大于30mm的直筒形瓷套进行超声波探伤的一般 规定、测试要求、人工标准缺陷试样、探伤仪工作灵敏度、判废依据、记录等。 本标准仅适应以A型脉冲反射式超声波探伤仪，用接触法对瓷件进行纵向超声波探伤。 2引用标准 下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。在标准出版时，所示版本均 为有效。所在标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。 GB772—1987 高压绝缘子瓷件技术条件 GB/T2900.81995电工术语绝缘子 GB/T5616—1985常规无损探伤应用导则 3定义 本标准所用术语的定义除应符合GB/T2900.8规定外，还应采用下列定义。 3.1超声波探伤ultrasonictesting 利用超声波的指向性和传播规律来检查工件中存在的缺陷情况。 3.2 探伤仪的工作灵敏度operatingsensitivtyofdefectsdetector 在一定条件下规定超声波探伤仪探测缺陷大小的能力。 3.3纵波longitudinalwave 介质质点振动方向与波的传播方向一致的波。 3.4直探头normalprobes 用于纵波探伤的探头。 3.5水平线性level linearity 电子束扫描电压与时间正比关系的程度。 3.6主声束mainsoundbeam 由于声源的指向特性在某一方向进行强烈的集中而形成的超声束主瓣。 3.7晶片piezoelectricplate 探头中电声转换元件。 3.8扫查方式modeofsweep 探伤时探头移动的方式。 3.9声程rangeofpulse 声波在工件中传播的路程。 3.10声耦合剂couplingmediaofpulse 为了把从探头发射的超声波传播给工件，避免探头和工件探伤面之间造成空隙而施加的介质（如水、 国家机械工业局1999-08-06批准 2000-01-01实施 JB/T 9674-1999 机油等)。 3.11底波 waveofbase 工件底面引起的反射波的显示讯号。 3.12缺陷波 waveofflaw 缺陷引起的反射波的显示讯号。 4一般规定 4.1从事无损探伤的人员，必须具备国家有关主管部门颁发的无损检测人员技术资格证书。 4.2超声波探伤仪的规定 超声波探伤仪应满足以下要求： a）仪器工作频率应包括1~5MHz； b）仪器标称探测深度应不小于被探试品的高度； c）具有总衰减量不小于50dB，衰减调节精度为士1dB以下的衰减器； d）当探伤仪发射功率较大，且电源电压在标称电压士10%范围内变化时，水平线性下不应有明显的 变化。 4.3探头的规定 探头应满足下列要求： a）采用单直探头，根据需要在15MHz范围内选择探头频率，推荐为1.25MHz或2.5MHz。探 头晶片直径可根据需要选择； b）探头发射的超声波主声束在垂直方向偏向角应不大于2°。 4.4试品的规定 瓷件两端面的平行度和主体轴线直线度应符合GB772的规定。探测面应平滑，其粗糙度应不大于 10 μm。 4.5耦合剂的规定 应采用良好的声耦合剂，如水、机油等，且必须保持耦合剂的清洁。 5测试要求 5.1测试不应在有高频电磁场、强烈振动和腐蚀性气体的场所进行。 5.2用人工标准缺陷来确定探伤仪的工作灵敏度。开始探伤前，均需用人工标准缺陷试样重新校准探伤 仪工作灵敏度。 5.3为了确保缺陷不漏检，扫查速度不宜过快。本标准推荐两种扫查方法，对瓷套采用连续式，对实心 瓷件采用间断式。探头一般距瓷件内、外圆弧应不小于5mm。 5.4对于高度大于800mm的瓷件，应分别在两端面进行探测。 6人工标准缺陷试样 6.1人工标准缺陷试样要求 不得有影响探测的自然缺陷，在荧光屏上杂乱反射讯号较弱，波形图清晰可辩。 6.2人工标准缺陷试样的制作 对人工标准缺陷试样的制作，是在远离探测面的下端锯一规定深度的锯口，锯口距下端的垂直距离 不小于30mm，其锯口深度推荐如表1。 7探伤仪工作灵敏度 探伤仪工作灵敏度采用人工标准缺陷试样校准。 2 JB/T 9674-1999 将探头置于试品远离人工缺陷的端面，调节仪器灵敏度控制旋钮，使第一次人工缺陷波波高为荧光 屏满幅度50%，此时的灵敏度即定为探伤仪工作灵敏度。 当试品与人工标准缺陷试样声程不同时，需将已在标准试样上校正好的探伤仪工作灵敏度再增益或 衰减△S(dB)，才算校正好探伤仪的工作灵敏度。△S推荐按下式计算： SA 式中：△S一一为补偿由于声程不同而引起的缺陷波变化所需的增益或衰减值，dB； Sa一一试品的最大声程，mm； X人工缺陷试样最大声程，mm。 当试品与人工标准缺陷试样瓷质不同时，需将已在标准试样上校正的探伤仪工作灵敏度再增益或衰 减传输差值△T（dB），才算校正好探伤仪的工作灵敏度。△T可按如下实测方法求得： 将探头放在标准试样上，调节仪器使至少显示二次底波，并使第一次底波高为荧光屏满幅度的80%， 然后，在显示于荧光屏上的各次底波峰值上作上标记，并连成一根曲线。最后，将探头放在试品上，为 使试品底波高度及曲线与标准试样重合所需调节的增益或衰减分贝值，即为△T。 表1瓷件锯口弓形高度 试样总高 实心瓷件 mm 瓷套 m mm <0. 5 6 4~8 0.5~1 6~12 5~10 >1 15~20 5~10 8判废依据 8.1在校准的探伤仪工作灵敏度下有下列之一现象时，均应判废。 a）无底波； b）底波明显滞后； c）当有底波，又有缺陷波；缺陷波影响底波高度，且探头在两端面分别探伤时，缺陷距上、下端面的 声程之和等于或基本等于瓷件总声程； d）当无缺陷波，但底波波幅低于荧光屏满幅度的50%时：对实心瓷件应判废；对瓷套，可根据具体 情况，用其他方法验证后，再作判断。 8.2如用户有特殊要求，可按供需双方协议确保界限。 9探伤记录 探伤记录一般包括以下内容： a）探伤人员及日期； b）产品规格、型号及编号； c）仪器型号及仪器各旋钮（粗调、增益、输出、抑制、补偿、衰减）读数； d）探头频率、种类及尺寸； e）探伤方法及耦合剂； f）人工标准缺陷试样； g）波形； h）探测面粗糙度； i)结论。 1999 JB/T 9674 中华人民共和国 机械行业标准 超声波探测瓷件内部缺陷 JB/T 96741999 机械科学研究院出版发行 机械科学研究院印刷 （北京首体南路2号邮编100044） 开本880×12301/16印张X/X字数XXX,XXX 19XX年XX月第X版19XX年XX月第X印刷 印数1-XXX 定价XXX.XX元 编号 XX-XXX 机械工业标准服务网：http://www.JB.ac.cn 1999 JB/T 9674 中华人民共和国 机械行业标准 超声波探测瓷件内部缺陷 JB/T 96741999 机械科学研究院出版发行 机械科学研究院印刷 （北京首体南路2号邮编100044） 开本880×12301/16印张X/X字数XXX,XXX 19XX年XX月第X版19XX年XX月第X印刷 印数1-XXX 定价XXX.XX元 编号 XX-XXX 机械工业标准服务网：http://www.JB.ac.cn